ECTS/orduak
27 ORDU
Egutegia
2025/10/24 - 2025/11/28
Or
Tokia
Hizkuntza
Gaztelania
Modalitatea
Aurrez aurrekoa
Prezioa
920 €
Helburuak
- “Arakapenezko -mikroskopia elektronikoa” materialak karakterizatzeko teknikaren oinarri teorikoak ezagutzea, bai behaketa mikroskopikoen ikuspegitik, bai X izpien bidezko mikroanalisiaren eta atzerakako elektroien difrakzioaren ikuspegitik (EBSD).
- Funtzionamendua ezagutzea eta Arakapenezko -mikroskopio elektroniko batekin lehen kontaktua izatea
Nori zuzendua
- Doktoregaiak
- Laborategiko teknikariak
- Ikertzaileak
Aldez aurretik eskatzen diren ezagutzak:
- Fisika (1. maila)
- Materialen zientzia
Programa
Sarrera (0,5 h)Arakapenezko-mikroskopia elektronikoa (24,5)
1. Teoria (17 h) (taldeko erakustaldiak FE-SEM: 7,5 h)
1.1. Sarrera (0,5 h) (taldea 0,25 h)
1.2. Elektroien eta materiaren arteko elkarrekintzen fisika (4 h)
1.3.- Optika elektronikoa (3,75 h) (ekipoa 0,25 h)
1.4. Irudiak sortzea eta interpretatzea (2,75 ordu) (1 orduko taldea)
1.5. Lan egiteko moduak eta detektagailuak (FE-SEM Nova NanoSEM 450) (3,5 h) (ekipoa 4,33 h)
1.6. X izpien mikroanalisia. Analisi kualitatiboa (1,25 h) (ekipoa 0,75 h)
1.7. EBSD analisia. Oinarrizko kontzeptuak (1,25 h) (taldea 0,92 h)
Irakasleak
Tato Vega, GuilsonEgutegia
2025/10/24 - 2025/11/28
Or
08:30-13:00